產(chǎn)品時間:2024-08-16
上海恒平紫外可見分光光度計(雙光束)UV2800UV2800系列為大屏幕掃描型雙光束紫外可見分光光度計。全新的光學(xué)系統(tǒng)和電路系統(tǒng)設(shè)計確保儀器具有:高分辨率、低雜散光、持久穩(wěn)定性和高信噪比。1.8nm帶寬具有更高的光譜分辨率,能滿足多國藥典規(guī)定。帶寬可調(diào)的UV2800S滿足用戶多層次的分析應(yīng)用需求。紫外可見分光光度計計算機(jī)應(yīng)用軟件為您的儀器實現(xiàn)更加強(qiáng)大的功能。
品牌 | soptop/舜宇恒平 |
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上海恒平紫外可見分光光度計(雙光束)UV2800
生產(chǎn)廠家:H|舜宇恒平
參考價格:38000
UV2800系列為大屏幕掃描型雙光束紫外可見分光光度計。全新的光學(xué)系統(tǒng)和電路系統(tǒng)設(shè)計確保儀器具有:高分辨率、低雜散光、持久穩(wěn)定性和高信噪比。1.8nm帶寬具有更高的光譜分辨率,能滿足多國藥典規(guī)定。帶寬可調(diào)的UV2800S滿足用戶多層次的分析應(yīng)用需求。紫外可見分光光度計計算機(jī)應(yīng)用軟件為您的儀器實現(xiàn)更加強(qiáng)大的功能。
功能
光度測量:定波長測試透過率、吸光度和系數(shù)吸光度測量。
光譜掃描:掃描速度可選,掃描間隔可選(0.1、0.5、1、2、5nm),峰/谷自動檢測,圖譜縮放等功能。
定量測定:單波長法,1-3階線性標(biāo)準(zhǔn)曲線擬合,zui多可建立9個標(biāo)樣點的標(biāo)準(zhǔn)曲線。
動力學(xué)測量(時間掃描):對樣品進(jìn)行動力學(xué)測試,測試間隔時間可選,可保存近10000個測試數(shù)據(jù)點。
UV2800S 具有四檔光譜帶寬可調(diào)(0.5、1、1.8、4nm)。
特點
持久的穩(wěn)定性:雙光束光學(xué)系統(tǒng),電路系統(tǒng),確保儀器長時間的穩(wěn)定。
超低的雜散光:*的光學(xué)系統(tǒng)、低噪聲的電路系統(tǒng)和優(yōu)質(zhì)的光學(xué)元器件保證儀器具有超低的雜散光,使高濃度樣品測試更準(zhǔn)確。
顯示及操作:人性化設(shè)計,主機(jī)能進(jìn)行光譜掃描,大屏幕顯示器顯示數(shù)據(jù)、圖形、曲線,更直觀,用戶操作簡單方便。
燈源更換簡單方便:法蘭盤座式氘燈結(jié)構(gòu),更換氘燈無需工具,免去換燈時光路調(diào)試步驟,使儀器調(diào)試、維護(hù)更加簡單。
豐富的可選附件:自動六聯(lián)比色架等多種附件可供選擇,儀器測量功能更加廣泛。
可選配UV-Solution3.0工作軟件,可進(jìn)行多種測試(光譜掃描、導(dǎo)數(shù)光譜)等功能。
型 號 | UV2800 | UV2800S |
光學(xué)系統(tǒng) | 雙光束 | 雙光束 |
光譜帶寬 | 1.8nm | 0.5、1、1.8、4nm |
波長范圍 | 190~1100nm | 190~1100nm |
波長zui大允許誤差 | ±0.3nm | ±0.3nm |
波長重復(fù)性 | ≤0.2nm | ≤0.2nm |
光度范圍 | T:0~200.00%T A:-0.301~4.000Abs C:0~9999 | T:0~200.00%T A:-0.301~4.000Abs C:0~9999 |
透射比zui大允許誤差 | ±0.3%T | ±0.3%T |
透射比重復(fù)性 | ≤0.1%T | ≤0.1%T |
雜散光 | ≤0.05%T(220nm、340nm處) | ≤0.05%T(220nm、340nm處) |
基線平直度 | ±0.001A | ±0.001A |
漂移 | ≤0.0005A/h(500nm處) | ≤0.0005A/h(500nm處) |
噪聲 | 100%(T)線噪聲≤0.1%(T) 0%(T)線噪聲≤0.05%(T) | 100%(T)線噪聲≤0.1%(T) 0%(T)線噪聲≤0.05%(T) |
顯示器 | 320×240大屏幕LCD(6英寸) | 320×240大屏幕LCD(6英寸) |
外形尺寸 | 540x445x230(mm) | 540x445x230(mm) |
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